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军用电连接器绝缘体绝缘失效原因

来源:www.txsjwj.com发表时间:2018-09-07

  首先对失效品和正常品进行高温试验,对高温下及冷却后的样品分别进行绝缘测试,结果显示:失效品军用电连接器中含有一定量的水分,同时水的存在及高温均会使军用电连接器的绝缘阻值降低。接着对失效品军用电连接器进行拆装试验,发现军用电连接器内部绝缘组件上残留有浅蓝色的腐蚀物及附着有一层光亮的金属膜,对拆除封装胶前后失效连接器进行绝缘阻值测试,结果显示拆装后失效军用电连接器绝缘体的绝缘阻值变为合格,而封装胶的经检测其绝缘阻值正常。

  对绝缘组件上的浅蓝色腐蚀物和光亮银膜进行SEM&EDS测试,结果表明浅蓝色腐蚀物含有大量的锌(Zn)、铜(Cu)、氯(Cl),残留在红胶上的光亮金属膜含有的主要元素为银(Ag),SEM结果显示金属膜的微观形貌呈树枝状,这是典型的金属银迁移表现,银迁移膜和金属腐蚀物残留在绝缘组件上在外金属套壳与内金属触条构件间形成断断续续的导电通路,从而导致军用电连接器绝缘体内外绝缘阻值下降,拆除封装胶的过程中破坏了已形成的导电通路,因此连接器阻值恢复正常。

  对军用电连接器的所有金属构件进行EDS测试,结果表明与内金属触条一体的金属构件为表面镀银的铜锌合金,其他金属构件均无铜锌银成分,因此浅蓝色腐蚀物及银迁移膜均来自与内金属触条一体的金属构件,对所有的绝缘组件进行红外分析,结果显示绝缘组件分别有聚酯、硅胶、聚氯乙烯(封装胶),分别对失效品封装胶和正常品封装胶进行离子色谱分析,结果显示失效品封装胶中氯离子的含量是正常品的1.8倍,而潮湿环境下氯离子的存在将会大大促进金属构件的腐蚀和离子导电通路的形成,因此连接器绝缘失效的原因是在高温潮湿通电的使用环境条件下,与内金属触条一体的金属构件在氯离子的促进作用下发生了主体材质的腐蚀和镀银层迁移,这两种效应的产物附着在绝缘组件表面形成导电通路,从而使外金属套壳与内金属触条之间绝缘阻值降低,导致军用电连接器绝缘体绝缘失效。

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